日時

2024年1月25日（木）15:00-16:30

開催方式

WEBミーティング（ZOOM）

主催

マテリアル先端リサーチインフラ

共催

大学連携研究設備ネットワーク

定員

なし

参加費

無料

参加申し込み

Webフォーム　https://forms.gle/uGxhSUBuCu8h1CrX6

概要

物質の結晶相同定や結晶構造解析に不可欠な手法であるX線回折実験。バルク表面の反応層（酸化膜層やメッキ層）や半導体材料などの基板上成膜されたエピタキシャル層などの薄膜を対象とした測定方法は薄膜X線回折法と呼ばれる。特に表面敏感な測定が可能なIn-plane XRD、エピタキシャル層の分析が可能な逆格子マッピング法、結晶／非結晶を問わずに膜厚分析ができるX線反射率法、結晶方位解析が可能な極点図測定法について測定事例を紹介しながら解説する。【初級～中級】

詳細

【講師】東北大学　丹野 健徳　

【参加対象者】薄膜X線回折装置使用者および、今後使用する予定のある方。

本講習会に参加される方は、事前に下記サイトから過去のセミナーを受講することをお勧めします。
https://www.eqnet-portal.jp/eq-study/documents?docs_taxonomy=docs_06
【初歩】分析装置初歩セミナー　XRD基礎　（2021年11月5日開催）
【初歩】分析装置初歩セミナー　XRD薄膜測定基礎　（2021年11月5日開催）

【プログラム】
15:00-16:10
　1．Ｘ線回折の原理
　2．薄膜X線回折の装置について
　3．薄膜X線回折の分類
　4．薄膜X線回折の測定方法
　5．測定例の紹介（In-plane XRD, RSM, XRR, Pole Figure）

16:10-16:30
　Q&A

お問い合わせ

自然科学研究機構分子科学研究所
大学連携研究設備ネットワーク事務局（分子科学研究所　機器センター）
〒444-8585　愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号：0564-55-7437
E-mail：eqnet-office(at)ims.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。

ホームページ
[URL] https://www.eqnet-portal.jp/posts/view/446
最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。