日時
2023年11月28日（火）13:30-16:50
場所
東京大学 武田先端知ビル５F （対面のみ）
主催
東京大学・次世代電子顕微鏡法社会連携講座
共催
東京大学・日本電子産学連携室、マテリアル先端リサーチインフラ事業（ARIM）
定員
150名（事前登録制）
参加費
無料
参加申し込み
Webフォーム https://forms.gle/J1GKfcGt5iY3Bi848
※定員となり次第、申込みを締め切らせて頂きます。
概要
基本的手法の解説から装置の操作に関するやや発展的な内容まで、電子顕微鏡初学者を対象としたセミナーです。
詳細
電子顕微鏡セミナー ～TEM入門コース～ プログラム
13:30-13:35 開会挨拶、オリエンテーション 東京大学大学院工学系研究科 石川 亮
13:35-14:35 TEMの基礎について 日本電子株式会社 近藤 行人
14:35-15:00 TEMによるその場観察 日本電子株式会社 ＥＭ事業ユニット 福永 啓一
15:00-15:10 休憩
15:10-15:35 透過電子顕微鏡JEM-F200の紹介 日本電子株式会社 ＥＭ事業ユニット 福永 啓一
15:35-16:00 TEMサンプリングについて（TEMサンプリング概略、イオンミリング法、FIB法） 河原 尚
16:00-16:25 最新FIB JIB-PS500iの紹介 日本電子株式会社 ＥP事業ユニット 柴田 昌照
16:25-16:45 質疑応答
16:45-16:50 閉会挨拶
※プログラムは予告なく変更する場合があります。予めご了承ください。
お問い合わせ
東京大学・日本電子産学連携室 金子・斎藤
E-mail: skaneko(at)jeol.co.jp ※(at)を@に書き換えてください。
または
東京大学ARIM統括コーディネート室
https://lcnet.t.u-tokyo.ac.jp/contact/
ホームページ
[URL] https://00m.in/hxNUr
最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。