データセット

Various TEM analyses of a standard specimen (cross grating

データセットID

e72852dc-7504-4940-b1a0-3c49f98176f4

ファイルサイズ

251040496

データ数

4

課題番号

JPMXP1222NM1003

サブタイトル

Various TEM analyses of a standard specimen (cross grating)

エンバーゴ期間終了日

2023-10-31 03:00

開設日時

2023-02-17 08:20

データセット

申請者:MATSUNAMI,Shigeyuki 所属:NIMS
申請者:KIMOTO,Koji 所属:NIMS

装置名

単原子分析電子顕微鏡

タグ

要約

TEM装置の較正に用いられるcross grating replica試料(Agar S106)のSTEM、TEM、Diffraction、EELSの計測結果。
TEM and STEM images, a diffraction pattern and an EEL spectrum of a cross grating replica (Agar S106).

木本浩司ほか「物質・材料研究のための透過電子顕微鏡」講談社(2020).ISBN 978-4065203866

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