データセット

*******非開示*******

課題名

*******非開示*******

課題番号

JPMXP12********

データセット登録者

エンバーゴ期間終了日

2023-12-01

データセットID

f40277e6-6345-4b26-904d-41f40fd72fa4

ファイルサイズ

1.13GB

データ数

3

装置名

200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡

要約

アモルファスカーボン下地上にSn、Biの順に逐次蒸着することにより、ナノ粒子試料を作製した。TEM/STEM観察の結果、粒径20nmサイズのBiコアSnシェルナノ粒子が形成されていることが判明した。TEM内で加熱観察を行うと、約473Kでデバイシェラーリングがハローパターンへと変化した。冷却すると、323Kでデバイシェラーリングが再び現れたが、弱いハローリングも残留した。

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