<概要（目的・用途・実施内容）>
XRDを使用してVO2/hBNの回折曲線を測定し、面外方向のhBNとVO2の関係を確認する。
<実験>
大気中でXRDを使用し、まずシリコン基板を使用して軸調整を行い、2θ角のスキャン範囲を10度から80度に設定して特徴的なピークを探知した。
<結果と考察>
Siの特徴的なピークとサテライトピークに加えて、（001）面のhBNと（110）面のVO2が平行であることが確認され、面外方向でのVO2の成長方向が確定された。
<備考>
本要約はデータセット用の凡例です。