データセット名：*******非開示*******
課題名：*******非開示*******
データセット登録者（所属機関）：
- 課題番号：
- JPMXP12********
- 実施機関：
- 大阪大学
要約
<概要（目的・用途・実施内容）>
XRDを使用してVO2/hBNの回折曲線を測定し、面外方向のhBNとVO2の関係を確認する。
<実験>
大気中でXRDを使用し、まずシリコン基板を使用して軸調整を行い、2θ角のスキャン範囲を10度から80度に設定して特徴的なピークを探知した。
<結果と考察>
Siの特徴的なピークとサテライトピークに加えて、（001）面のhBNと（110）面のVO2が平行であることが確認され、面外方向でのVO2の成長方向が確定された。
<備考>
本要約はデータセット用の凡例です。
キーワード・タグ
- 重要技術領域（主）：
- 重要技術領域（副）：
- 横断技術領域：
- マテリアルインデックス：
- キーワードタグ：
データメトリックス
- ページビュー：
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データインデックス
- 登録日：
- 2023.12.08
- エンバーゴ解除日：
- 2023.10.31
- データセットID：
- 6a692d4d-0c7f-4eb1-b5ee-cd022edccd0f
- データタイル数：
- 1
- ファイル数：
- ファイルサイズ：
- 1.03MB
装置・プロセス