<概要（目的・用途・実施内容）>
紫外光電子分光法による仕事関数測定の標準試料、および典型的なサンプルの測定事例を集めることを目的とした。
<実験>
HK-408：大気中紫外光電子分光装置を使用し、分光された紫外線を試料に照射、表面から放出された光電子を計数することにより仕事関数・イオン化ポテンシャルの測定を行った。
<結果と考察>
Au・CVD-SiO2膜の他、22HK9001(X線光電子分光装置を用いた標準試料測定データの取得)や、XPS-FSで使用したSiO2・PET・PMMA・n型Si・p型Siのデータを得ることができた。