データセット

データセット名:実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡による金ナノ粒子標準試料観察

課題名:ナノ構造評価技術開発

データセット登録者(所属機関):UESUGI,Fumihiko(NIMS)

課題番号:
JPMXP1223NM2102
実施機関:
物質・材料研究機構

要約

JEOL製の支持膜GRIDに金を数秒間スパッタ蒸着して作製したSTEMコレクタ調整用の試料です。本機のHRTEM像はエネルギー・フィルターも搭載されているEELS(GIF)により撮影しています。また本機では高解像度なSTEM像を撮影出来ます。ABF-STEM像もHAADF-STEM像もZ-Contrast像で、ABF-STEM像の場合は軽元素も見えやすくなります。

502.png

キーワード・タグ

重要技術領域(主):
重要技術領域(副):
横断技術領域:
マテリアルインデックス:
キーワードタグ:

データメトリックス

ページビュー:
32
ダウンロード数:
0

データインデックス

登録日:
2024.11.20
エンバーゴ解除日:
2024.10.31
データセットID:
1921820e-2ed9-4edd-a81b-41ad33f21419
データタイル数:
12
ファイル数:
84
ファイルサイズ:
124.78MB

成果発表・成果利用