【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.05.31】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23MS5008
利用課題名 / Title
金電極の反応解析
利用した実施機関 / Support Institute
自然科学研究機構 分子科学研究所 / IMS
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者）/Internal Use (by ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）物質・材料合成プロセス/Molecule & Material Synthesis（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
電極、表面反応、反応機構
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
湊 丈俊
所属名 / Affiliation
分子科学研究所 機器センター
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
今井 弓子,上田 正,中本 圭一
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
伊木 志成子,藤原 基靖,石山 修
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
MS-202：低真空分析走査電子顕微鏡
MS-210：オペランド多目的X線回析
MS-213：X線光電子分光
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
電解液中で金電極の還元反応を進行させ、電極表面に生成した膜の組成や構造を解析した。
実験 / Experimental
電解液中で金電極の電位を卑な電位に掃引し、電気化学的に還元反応を進行させた。その後、電極をX線光電子分光法、X線回折、走査型電子顕微鏡などを用いて、電極表面の生成物を解析した。
結果と考察 / Results and Discussion
電解液中で試料の電位を掃引する事で生じた還元反応によって、金電極中の不純物と電解液が反応し、電極表面に新しい固体層が形成されていることを推測していた。しかし、X線光電子分光法、X線回折、走査型電子顕微鏡などを用いて解析した結果、不純物の影響は見られなかった。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件