利用報告書 / User's Reports


【公開日:2024.07.25】【最終更新日:2024.06.25】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

23RO0033

利用課題名 / Title

加工プロセス条件の解明

利用した実施機関 / Support Institute

広島大学 / Hiroshima Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

形状・形態観察,MEMS/NEMSデバイス/ MEMS/NEMS device


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

アル・ファリシィ ムハンマド・サルマン

所属名 / Affiliation

広島市立大学大学院情報科学研究科

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

水野 恭司

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

RO-534:表面段差計


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

微細加工プロセスにおける成膜とエッチングは、半導体デバイスやMEMS(Micro-electro mechanical systems / 微小電気機械システム)などの微細構造を作成するための重要な工程である。成膜とエッチング工程における材料形成若しくは除去レートを解明するため、表面段差計を用いて加工した試料の表面段差を計測した。

実験 / Experimental

各資料の一部をそれぞれの工程で一定条件で処理し、各試料の処理面と未処理面の段差を表面段差計(RO-534)を用いて測定した。その段差と各処理時間を用いて成膜若しくはエッチングレートを求めた。

結果と考察 / Results and Discussion

成膜工程の評価では、基板の一部に一定条件で素材を成膜形成した。そのため、処理面は未処理面と比較して正向きに段差が生じる。表面段差計測結果を図1に示す。本実験で得た段差及び成膜処理時間を用いて成膜レートを求めた。成膜レートは今後MEMSデバイスを設計・作製する時にそれぞれの薄膜の厚さ制御に重要なパラメータとなる。
エッチング工程の評価では、基板の一部の素材を除去した。そのため、処理面は未処理面と比較して不向きに段差が生じる。表面段差計測結果を図2に示す。本実験で得た段差及びエッチング処理時間を用いてエッチングレートを求めた。エッチングレートは今後MEMSデバイスを設計・作製する時にそれぞれのエッチング深さ制御に重要なパラメータとなる。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


Fig. 1: Surface profile of the deposition sample. Green color indicates the base substrate and red color indicates the deposited material.



Fig. 2: Surface profile of the etching sample. Green color indicates the etched area and red color indicates the base area.


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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