【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.05.27】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23NM5436
利用課題名 / Title
X線吸収の各種検出法のプロービング深さに関する基礎評価
利用した実施機関 / Support Institute
物質・材料研究機構 / NIMS
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
ICP-OES, Lithium, impurity
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
伊藤 仁彦
所属名 / Affiliation
物質・材料研究機構
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
西尾 満章,林 百子,岩撫 暁生,山口 仁志,宮川 心,鈴木 達也
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
Li蒸着膜の電気化学的溶解・析出試験前後に、Li膜上にSEM/EDSにてZn、Si、およびMgが検知された。そこで、それら３元素とZn L線にK線が重なりやすいNaについて、蒸着源に用いたLiインゴットを切り出し純水に溶解させた後、ICP-OESにて含有量を定量的に分析した。
実験 / Experimental
問題のLiインゴットを純Ar雰囲気中で切り出し、大気中に取出してすぐ純水に溶解させた。その後PHを調整され、ICP-OESにて定量分析を行った。Liの溶解に用いた純水についてもブランク（バックグラウンド）として分析を行った。
結果と考察 / Results and Discussion
Table 1に示したとおり、問題の4元素はLiに対して十分微量であり、Liインゴットの調達先の基準内であった。従って、問題の汚染は蒸着源のLiインゴット以外からもたらされていることが確認された。汚染源を使用する器具類、蒸着源の坩堝、グローブボックス内で浮遊しうる何等かの粉体等に絞ることができた。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
ICP-OES results of impurity elements in Li ingot
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
特になし。
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件