【公開日：2023.07.31】【最終更新日：2023.05.16】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22MS5026
利用課題名 / Title
合成した光触媒の粒子の分析
利用した実施機関 / Support Institute
自然科学研究機構 分子科学研究所 / IMS
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）物質・材料合成プロセス/Molecule & Material Synthesis（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies（副 / Sub）革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion
キーワード / Keywords
光触媒,赤外・可視・紫外分光/Infrared and UV and visible light spectroscopy
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
斎藤 晃
所属名 / Affiliation
自然科学研究機構分子科学研究所物質分子科学研究領域杉本グループ
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
石山 修,上田 正
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
MS-202：低真空分析走査電子顕微鏡
MS-228：紫外・可視・近赤外分光光度計
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
合成した光触媒の物性評価を行った。具体的には、走査電子顕微鏡による粒子形状の確認や粒子径の計測および紫外可視吸収分光による光吸収特性の評価を行った。
実験 / Experimental
走査電子顕微鏡では、事前に調製した光触媒の粉体2次電子像を種々の倍率で測定し、光触媒粉末の粒子形状や粒子径を評価した。紫外可視吸収分光では、積分球を使用した拡散反射法で粉体の光触媒の光吸収特性を評価した。
結果と考察 / Results and Discussion
走査電子顕微鏡を使用して金属担持前後の光触媒粉末を観察した。金属担持前後で母材の半導体の粒子形状に大きな変化は見られなかった。触媒調製では元の半導体粉末を酸性溶液に浸漬し、数百度での焼成過程を行うが、これらの調製過程が半導体粒子のモルフォロジーに影響しないことを確認した。紫外可視吸収分光では、金属担持前のサンプルでは半導体のバンドギャップに由来する吸収が確認された。これに金属を担持したサンプルではバンドギャップよりも長い波長領域の吸収が増加していることが確認された。金属を担持するとサンプルの色が目視でも変化したが、紫外可視吸収スペクトルを測定することで金属担持による新たな光吸収波長を明らかにすることができた。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件