【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.05.09】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23NI0106
利用課題名 / Title
遷移金属酸化物の構造物性
利用した実施機関 / Support Institute
名古屋工業大学 / Nagoya Tech.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）物質・材料合成プロセス/Molecule & Material Synthesis（副 / Sub）計測・分析/Advanced Characterization
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies（副 / Sub）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed
キーワード / Keywords
エレクトロデバイス/ Electronic device,電子顕微鏡/ Electronic microscope,資源代替技術/ Resource alternative technology
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
漆原 大典
所属名 / Affiliation
名古屋工業大学大学院工学研究科
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
浅香透
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）,共同研究/Joint Research
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
希土類ペロブスカイト化合物の相転移を明らかにするため、名古屋工業大学の設備を利用して制限視野電子回折パターンの温度依存性を調査した。
実験 / Experimental
La0.70Pr0.30CoO3単結晶試料に対してイオンミリング法を用いて観察試料を作製し、収差補正器付き透過型電子顕微鏡（JEM-ARM200F）を用いて制限視野電子回折を取得した。また、冷却ホルダーを使用して低温での構造変化を観察した。
結果と考察 / Results and Discussion
Fig.1 に155Kおよび300Kでの制限視野電子回折パターンを示す。赤色の矢印で示すように155Kでは超格子反射が現れ、構造相転移が生じていることが明らかとなった。回折パターンおよびX線回折を用いた構造解析からペロブスカイト構造中のCoO6八面体の回転様式の変化が生じていることが明らかとなった。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
Fig.1 Selected area electron diffraction patterns of La0.70Pr0.30CoO3 at 155 K and 300 K.
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
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Daisuke Urushihara, Structural phase transition and spin state in the perovskite cobalt oxides
DOI: 10.1103/PhysRevB.109.024115
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件