【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.07.01】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23NR0045
利用課題名 / Title
逆浸透膜のCs-SEM観察
利用した実施機関 / Support Institute
奈良先端科学技術大学院大学 / NAIST
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）物質・材料合成プロセス/Molecule & Material Synthesis
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）マルチマテリアル化技術・次世代高分子マテリアル/Multi-material technologies / Next-generation high-molecular materials（副 / Sub）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed
キーワード / Keywords
FE-TEM、3D積層、逆浸透膜,電子顕微鏡/ Electronic microscope,3D積層技術/ 3D lamination technology
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
冨永 亮太
所属名 / Affiliation
株式会社日東分析センター
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
宮家 和宏
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
逆浸透膜の最表面に存在するとされる微細孔（～1nm）の可視化が可能であるか確認する。
実験 / Experimental
弊社にて調製した超薄切片試料について、Csコレクター付きFE-TEMのSEM機能を用いて観察を行う。
結果と考察 / Results and Discussion
装置としては像分解能は充分であると考えられたので、事前にはその点を期待していたが、サンプル的に試料ドリフトや電子線ダメージ、チャージアップの影響が顕著であると思われ、残念ながら明確な観察像は得られなかった。事後、弊社内で今回の結果を議論したところ、サンプリングの手法も検討の余地があるのではないかという結論であった。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件