【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.05.10】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

23NM5315

利用課題名 / Title

ペロブスカイト型酸化物における強相関電子秩序のアトムスケール状態解析

利用した実施機関 / Support Institute

物質・材料研究機構 / NIMS

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-

【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions（副 / Sub）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed

キーワード / Keywords

スピントロニクスデバイス/ Spintronics device,電子顕微鏡/ Electronic microscope,スピントロニクス/ Spintronics

利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)

長井 拓郎

所属名 / Affiliation

物質・材料研究機構

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

岡田徳行

利用形態 / Support Type

（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-

利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

NM-403：TEM試料自動作製FIB-SEM複合装置
NM-402：単原子分析電子顕微鏡

報告書データ / Report

概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

ペロブスカイト型遷移金属酸化物における強相関電子の自由度（電荷・スピン・軌道）の秩序状態をモノクロメータ収差補正透過型電子顕微鏡(TEM)法及び走査透過型電子顕微鏡(STEM)法を用いてアトムスケールで実空間観察することを目的とする。スピンの高分解能実空間観察法を確立するため、透過電子顕微鏡およびTEM試料作製装置等を利用して観察手法の最適化を試みる。

実験 / Experimental

らせん磁性を示す希土類金属Hoの電顕観察試料をTEM試料自動作製FIB-SEM複合装置を用いて作製した。

結果と考察 / Results and Discussion

希土類金属Hoは柔らかくFIBで加工しづらい材料であるが、FIBメッシュのポスト上部にマイクロサンプルを取り付け、プローブ電流・加速電圧等の加工条件を最適化することにより、ローレンツ観察により磁化分布観察が可能な電顕試料を作製することができた。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations

図1.作製したTEM試料のSEM像

その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)

成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)

口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.

特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件