【公開日：2023.08.01】【最終更新日：2023.05.26】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22KU0013
利用課題名 / Title
電子顕微鏡を用いた新規材料のための分析手法の開発
利用した実施機関 / Support Institute
九州大学
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
電子顕微鏡/Electron microscopy,イオンミリング/Ion milling,集束イオンビーム/Focused ion beam,電子回折/Electron diffraction,電子分光,ナノ粒子/ Nanoparticles,ナノシート/ Nanosheet
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
川畑 明
所属名 / Affiliation
公益財団法人九州先端科学技術研究所 産学官共創推進室
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
王胖胖,吉原大輔,樋口芙弥
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
阿内三成
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
KU-003：マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置
KU-004：広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡
KU-009：ハイコントラスト補助電子顕微鏡
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
現在開発中の新規材料の改善・改良を行うために分析評価手法を確立する必要がある。この背景をもとに、顕微鏡観察や表面分析を行うことによって、これまでに確立されていない各種材料の分析評価手法に関する指針を立てる事を目的として本研究課題に申請し取り組んだ。
実験 / Experimental
今回は本事業の登録装置である収差補正走査/透過電子顕微鏡を使用し、現在開発中のサンプルである生体材料由来の有機-無機ハイブリッドナノ粒子のTEMでの形態観察、ならびにSTEM-EDXによる粒子中の有機物と無機物の状態に関する情報を得て、目的の試料が調製できているかを確認する手法を確立するために元素情報のマッピング、ライン分析を行った。また、別の開発中製品の断面分析を行うためにマイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置を用いたSEM-EBSD測定を行った。
結果と考察 / Results and Discussion
有機-無機ハイブリッドナノ粒子のTEMによる観察では目的とするサイズの粒子が見られた。しかしながら、STEM-EDXの測定を行ったものの、目的のナノ粒子を構成する無機元素の同定には至っておらず、今後の課題として検討を進める。 また、SEM-EBSD測定では断面の詳細な構造に関しての情報を得ることができ、その結果をもとに開発製品の製造条件の改善・改良の指針を得ることができた。 以上の様に、本申請の課題に取り組むことで、電子顕微鏡を用いた現在開発中の新規材料の品質確認法の確立を行うことができた。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件