【公開日：2023.07.31】【最終更新日：2023.05.16】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22UT0395

利用課題名 / Title

ガラス表面に形成した多孔質構造の組成分析

利用した実施機関 / Support Institute

東京大学 / Tokyo Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-

【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials（副 / Sub）その他/Others

キーワード / Keywords

電子顕微鏡/Electron microscopy,イオンミリング/Ion milling,メソポーラス材料/ Mesoporous material

利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)

藤間　 卓也

所属名 / Affiliation

東京都市大学

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

利用形態 / Support Type

（主 / Main）技術補助/Technical Assistance（副 / Sub）-

利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

UT-154：イオンスライサー
UT-007：高分解能分析電子顕微鏡

報告書データ / Report

概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

ケイ酸塩ガラス表面上に形成した多孔質層について、その構造中における元素分布を詳細に分析することを目的としている。

実験 / Experimental

分析対象である多孔質構造は、孔径が数十nm程度以下、固相部分は直径数nm程度の微細な構造であるため、イオンスライサーでガラスサンプルから多孔質層の断面を切り出し、透過型電子顕微鏡を用いて観察を試みた。

結果と考察 / Results and Discussion

現段階では、サンプルの観察用薄片の切り出しに成功し、透過型電子顕微鏡を用いて構造の詳細な観察を行うところまで進んだ。事前に走査型電子顕微鏡を用いて確認していた通りの構造が確認されると同時に、走査型では分解能が不足して詳細に観察できていなかった構造まで確認できた。元素分布に関する分析までは、本年度は行えなかったが、次年度に行うものとした。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations

その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)

成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)

口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.

特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件