【公開日：2023.07.31】【最終更新日：2023.05.16】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22UT0307
利用課題名 / Title
アルミニウム合金のTEM観察
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）その他/Others（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
透過型電子顕微鏡/ Transmission electron microscopy, 走査型透過電子顕微鏡/ Scanning transmission electron microscopy, アルミニウム基合金/ Aluminum-based alloys,電子顕微鏡/Electron microscopy
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
西田 寛明
所属名 / Affiliation
MAアルミニウム株式会社
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
白野 直斗
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
押川 浩之,寺西 亮佑
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術補助/Technical Assistance（副 / Sub）,技術相談/Technical Consultation
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
UT-006：ハイスループット電子顕微鏡
UT-007：高分解能分析電子顕微鏡
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
アルミニウム合金中または表面の微細構造を観察・評価するため、東京大学の設備を利用してTEM観察・分析手法を習得する。
実験 / Experimental
【利用した主な装置】
・ハイスループット電子顕微鏡（JEM-2800）
・高分解能分析電子顕微鏡（JEM-2010F）
【実験方法】
集束イオンビーム加工装置またはArイオン研磨により作製したアルミニウム合金の薄片試料をハイスループット電子顕微鏡（JEM-2800）または高分解能分析電子顕微鏡（JEM-2010F）を用いてTEM、STEMによる組織観察、STEM-EDSによる組成分析を実施した。
結果と考察 / Results and Discussion
作製したアルミニウム合金の薄片試料のTEMおよびSTEMによる組織観察、STEM-EDSによる組成分析について技術補助による指導を受けた。観察に適した薄片試料では、集束イオンビーム加工装置またはArイオン研磨の何れで作製した試料についても、高倍率のTEM観察によりアルミニウム合金の酸化皮膜に格子縞が確認された。（図１参照）
しかし、作製した薄片試料の中にはTEMおよびSTEMによる観察に適さない試料も存在したことから、今後、より適切な試料作製方法を確立する必要が有る。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
図１ アルミニウム合金の酸化皮膜
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
本研究（の一部）は、文部科学省「マテリアル先端リサーチインフラ」事業（課題番号：JPMXP1222UT0307）の支援を受けました。本研究を遂行するに当たり、試料作製及びTEMをご指導いただきました国立大学法人東京大学 大学院工学系研究科 附属総合研究機構 先端ナノ計測ハブ拠点の押川浩之氏、寺西亮佑氏に感謝申し上げます。
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件