利用報告書 / User's Reports


【公開日:2023.07.28】【最終更新日:2023.05.16】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22BA0031

利用課題名 / Title

ナノカーボン材料の局所電気伝導特性評価

利用した実施機関 / Support Institute

筑波大学 / Tsukuba Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

走査プローブ顕微鏡/Scanning probe microscopy,原子層薄膜/ Atomic layer thin film,ナノカーボン/ Nano carbon,ナノチューブ/ Nanotube


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

沖川 侑揮

所属名 / Affiliation

産業技術総合研究所

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub),技術補助/Technical Assistance


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

BA-006:走査型プローブ顕微鏡


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

ナノチューブやグラフェン等の2次元材料において、局所的な電気伝導特性を明らかにしたい。

実験 / Experimental

金基板上にカーボンナノチューブを接触させた試料を弊所にて準備した。その材料に関して、Dimension IconのC-AFMおよびPeak force TUNAを用いて、ナノカーボン材料の局所的な電気伝導特性の評価を試みた。

結果と考察 / Results and Discussion

C-AFMは、カンチレバーに電圧を印加することで、材料の局所的な電気特性が評価可能な装置である。金基板上およびカーボンナノチューブ上にカンチレバーのTIPをコンタクトさせて、局所的な電気伝導特性評価を測定した。金基板上およびカーボンナノチューブ上ともに、非線形の電流-電圧特性を示している。金基板上での電流電圧特性は、予想されたオーミック(線形特性)にはならなかった。今後は、まず金基板上でオーミック接触が得られるような条件出しを行う予定である。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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