陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA)
最終更新日：2024年4月5日
| 設備ID | AT-501 |
|---|---|
| 分類 |
状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > 陽電子消滅法 表面分析（深さ方向元素分析を含む） > その他 |
| 設備名称 | 陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA) (Positron Probe MicroAnalyzer (PPMA)) |
| 設置機関 | 産業技術総合研究所（AIST) |
| 設置場所 | 産業技術総合研究所 |
| メーカー名 | 産総研自主開発 (AIST Original) |
| 型番 | |
| キーワード | ナノ空孔 ナノ欠陥 陽電子消滅法/ Positron annihilation method |
| 仕様・特徴 | 電子の反粒子である陽電子のマイクロビームを作り、物質中の陽電子寿命のマッピング測定を行う装置。 原子が1個抜けた原子空孔、ナノボイドのサイズ、分布の評価が可能。 ・陽電子源 ： 電子加速器対生成方式 ・陽電子ビーム径 ： 0.01 mm ～ 10 mm ・陽電子ビームエネルギー ： 1-30 keV ・寿命測定時間分解能 ： 200-300 ps |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=AT-501 |
