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“AT-501“ で検索した結果 18件
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- 23AT5043
- 陽電子消滅による配線材料の評価
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT5044
- 酸化膜の評価
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT5061
- 酸窒化クロムエピタキシャル膜の陽電子寿命測定
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT5062
- ドップラーブロード二ングによって調べるp型半導体ヨウ化銅のZn添加効果
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT5063
- CuIの陽電子消滅寿命測定
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 23AT5065
- 低速陽電子ビームによる微細粉体状高誘電体材料の評価
- 2024.7.25
- 産業技術総合研究所
- 22AT5020
- 陽電子消滅法を用いたトポロジカル物質の結晶欠陥評価に関する研究
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5019
- 材料損傷発展に及ぼす加工時多軸応力場の影響解明
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5018
- 陽電子プローブアナライザーによる全固体電池を構成する粒子の欠陥・空隙評価
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5017
- 酸化クロムエピタキシャル膜の陽電子消滅寿命分光
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所