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化合物半導体エッチング装置(ICP-RIE)

設備ID AT-082
分類 膜加工・エッチング > プラズマエッチング
装置名称 化合物半導体エッチング装置(ICP-RIE) (ICP-RIE (Compound Semiconductors))
設置機関 産業技術総合研究所(AIST)
設置場所 AISTつくば中央 2-12棟
メーカー名 サムコ (Samco)
型番 RIE-400iPS
キーワード エッチング
反応性イオンエッチング
プラズマエッチング
異方性エッチング
塩素系ガス
仕様・特徴 ・型式:RIE-400iPS
・試料サイズ:4インチ
・放電方式:誘導結合式プラズマ(ICP)
・試料導入方式:ロードロック式
・高周波電源:最大500W (13.56MHz)
・バイアス高周波電源:最大300W(13.56MHz)
・使用ガス:Cl2、BCl3、HBr、Ar、O2、CF4、SF6
    化合物半導体エッチング装置(ICP-RIE)
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