微小部蛍光X線分析装置
設備ID | AT-072 |
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分類 | 状態分析(各種分光法(元素分析・振動モード・電子状態)を含む) > X線蛍光分光分析 |
装置名称 | 微小部蛍光X線分析装置 (Microscopic X-Ray Fluorescent Analyzer(XRF)) |
設置機関 | 産業技術総合研究所(AIST) |
設置場所 | AISTつくば中央 2-12棟 |
メーカー名 | 日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech) |
型番 | SEA_5210A |
キーワード | 元素分析 X線蛍光分光分析/ X-ray fluorescence spectroscopy 薄膜 微小領域 元素マッピング |
仕様・特徴 | ・型式:SEA_5210A ・試料サイズ: 80mm□, 35mmt(上面照射方式) ・分析元素:Na~U ・試料形態:固形、薄膜(液及び粉は要許可) ・コリメータ:0.1, 1, 2.5mmφ ・雰囲気:大気、真空 ・ソフトウエア:定性分析、定量分析(FP法、検量線法)、薄膜分析(膜厚、組成)、元素マッピング |