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“BA-026“ で検索した結果 8件

表示件数

23BA0002
酸化物電子輸送層の電子親和力評価
2024.7.25
筑波大学
23BA0018
磁性酸化物材料の成長と価数評価
2024.7.25
筑波大学
23BA0020
走査型電子顕微鏡及びFIB装置を用いたプラズマ照射材の表面・断面及び組成計測
2024.7.25
筑波大学
23BA0023
光電子分光(XPS/UPS)装置による光半導体材料の評価
2024.7.25
筑波大学
23BA0024
金属ハライドペロブスカイト半導体の物性評価
2024.7.25
筑波大学
23BA0040
ペロブスカイト結晶の電子状態の観察
2024.7.25
筑波大学
23BA0044
表面分析装置によるAFMプローブの評価
2024.7.25
筑波大学
23BA0049
XPSを用いた窒化炭素薄膜のUPS/LIPESの測定
2024.7.25
筑波大学
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