利用報告書検索
“BA-015“ で検索した結果 18件
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- 23BA0001
- TiNの新規アプリケーションとして利用可能な薄膜の成長条件の探査
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0006
- 光電子分光装置(XPS)を利用したフッ素系樹脂の表面分析
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0014
- X線光電子分光を用いたホウ素含有物質に関する物質科学の研究
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0016
- 籠状窒素ドープカーボン触媒電極触媒を用いたMEAの評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0020
- 走査型電子顕微鏡及びFIB装置を用いたプラズマ照射材の表面・断面及び組成計測
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0023
- 光電子分光(XPS/UPS)装置による光半導体材料の評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0024
- 金属ハライドペロブスカイト半導体の物性評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0042
- XPS装置によるSn系ペロブスカイト材料の分析
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0044
- 表面分析装置によるAFMプローブの評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 22BA0048
- 金属ハライドペロブスカイト半導体の物性評価
- 2023.7.28
- 筑波大学