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“BA-014“ で検索した結果 8件
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- 23BA0001
- TiNの新規アプリケーションとして利用可能な薄膜の成長条件の探査
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0011
- 窒化アルミニウム(AlN)を用いた高温デバイスの作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0017
- 位相変調光学素子の作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0039
- スパッタ成膜アモルファス合金のパルス通電による組織変化
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0045
- (ARIM)触針式表面段差計 Alpha-Step D-500装置による膜厚の観察
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0054
- SUS304上に形成したCrパターンの膜厚分布測定
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 22BA0008
- 超ワイドバンドギャップ半導体材料を用いたデバイス作製
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0004
- 島状成長TiN薄膜の観察と条件探査
- 2023.7.28
- 筑波大学