利用報告書検索
“BA-003“ で検索した結果 11件
表示件数
- 23BA0010
- 次世代高機能性薄膜の評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0015
- TEM/AFMを用いた超高速計測技術の研究
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0020
- 走査型電子顕微鏡及びFIB装置を用いたプラズマ照射材の表面・断面及び組成計測
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0031
- ナノ加工を用いたプラズモニックデバイスの作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0053
- 走査型電子顕微鏡によるツボカビ細胞の観察
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 22BA0049
- 走査型電子顕微鏡によるツボカビ細胞の観察
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0042
- TEM sample preparation of Pt/a-Si/c-Si structure by FIB
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0035
- ナノ微細加工を用いたプラズモニック構造の作製
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0029
- 走査型電子顕微鏡を用いたプラズマ照射された金属の表面・断面観察
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0028
- SiC-MOSFET内蔵ダイオード順方向サージ電流導通時の破壊箇所断面観察
- 2023.7.28
- 筑波大学