【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.03.18】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

23KT0023

利用課題名 / Title

異方性ナノ構造体の形態・結晶構造および配向評価

利用した実施機関 / Support Institute

京都大学 / Kyoto Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-

【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials（副 / Sub）-

キーワード / Keywords

ナノ粒子/ Nanoparticles

利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)

岡崎 豊

所属名 / Affiliation

京都大学大学院 エネルギー科学研究科

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

清村 勤

利用形態 / Support Type

（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-

利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

KT-402：球面収差補正透過電子顕微鏡
KT-403：モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡

報告書データ / Report

概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

半導体ナノ粒子の形態や結晶構造は、その発光特性に影響を与える要素の一つである。本研究では、半導体量子ロッドの形態および結晶構造の評価を透過型電子顕微鏡観察により行なった。

実験 / Experimental

透過像観察により、異方性ナノ構造体の形態評価を行った。また、TEMの電子回折を利用し、サンプルの結晶構造評価を行った。

結果と考察 / Results and Discussion

球面収差補正透過電子顕微鏡を用いた透過像観察より、合成したコアシェル型半導体ナノロッドの長さがおよそ30 nm、幅がおよそ5 nmであることを確認した。高倍率での透過像観察結果より、c軸がロッドの長軸方向に沿ったウルツ鉱型結晶構造を確認した。また、モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡観察による元素マッピングより、コアシェル構造を確認した。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations

その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)

本研究の一部は、文部科学省「マテリアル先端リサーチインフラ」事業（課題番号： JPMXP1223KT0023）の支援を受けて実施されました。本研究の遂行にあた
りご協力頂きました、京都大学 化学研究所 先端ビームナノ科学センター複合ナノ解析化学 清村 様に、この場をお借りして感謝申し上げます。

成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)

口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.

特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件