利用報告書 / User's Reports


【公開日:2024.07.25】【最終更新日:2024.07.03】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

23TT0042

利用課題名 / Title

電解加工法の微細テクスチャー評価

利用した実施機関 / Support Institute

豊田工業大学 / Toyota Tech.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

マイクロテクスチュア, トライボロジー,光学顕微鏡/ Optical microscope


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

董  媛

所属名 / Affiliation

フレキシースクラム株式会社

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

佐々木 実

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

TT-032:三次元形状測定機


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

金属表面に微細なテクスチャーを加工することで、摩擦低減効果を得ることが知られているが、どんなテクスチャ―形状を用意すれば、どんな効果が得られるかは、研究と技術の蓄積が必要である.

実験 / Experimental

弊社でドットパターン状に微細加工した金属部品を、光学式三次元形状測定機を使い、加工形状を計測・評価した。希望する形状評価ができるかを検証した。

結果と考察 / Results and Discussion

図1は、ステンレス平板に直径約300μmの丸形凸ドットをピッチ1mmで並べた三角格子を観察したものである。表面に適度な粗さがあるため、光切断法で計測するのに向いている。高低差は約130~170μmと幅があるのは、板材にある結晶粒など不均一さがあるためである。凸形状の上部コーナが、丸みを帯びていることも分かる。図2は凹曲面内にパターニングした格子を観察したものである。ドットアレイが計測出来ている。但し、鏡面であるため、適度な光散乱が得られ難く、計測できない領域もあった。下地は、ドットと比べて一定とは見なせない大きな変化を含む曲面であるため、ドット部分の高低差は判断が難しかった。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


図1:ステンレス平板に製作した微細ドットアレイの計測結果



図2:ステンレス凹曲面に製作した微細ドットアレイの計測結果


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)

計測結果の下地変化をソフトウェアで除去して平坦化する方法は無いかなど、より高度な機能を、装置担当者と協力して調べることとした。測定結果の一部を、弊社ホームページで紹介させて頂いた。http://www.flexi-scram.co.jp/page/home-2


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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