【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.06.21】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23QS0121
利用課題名 / Title
ナノヘテロ構造体電⼦セラミクス材料における構造傾斜領域の精察
利用した実施機関 / Support Institute
量子科学技術研究開発機構 / QST
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）加工・デバイスプロセス/Nanofabrication
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions（副 / Sub）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials
キーワード / Keywords
３次元ヘテロエピタキシャル成長,X線回折/ X-ray diffraction,放射光/ Synchrotron radiation,ナノ粒子/ Nanoparticles
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
塚田 真也
所属名 / Affiliation
島根大学学術研究院教育学系
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
白川 皓介,古川 令,黒岩 芳弘
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
大和田 謙二,押目 典宏
利用形態 / Support Type
（主 / Main）共同研究/Joint Research（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
チタン酸バリウム（BaTiO3）をベースとするナノ結晶を系統的に調べ，その構造的な特徴を明らかにする。本申請では，一粒子の形状や内部構造歪みなどを可視化するブラッグコヒーレントX線回折イメージング（Bragg-CDI）法を用いて，ナノ結晶の構造物性へアプローチすることを目指した。
実験 / Experimental
BL22XU実験ハッチ１に量研が設置するコヒーレントX線回折イメージング装置とその附属品を用いた。実験試料はBaTiO3結晶等とした。Ｘ線エネルギーは8 keVとした。今回は集光光学系としてFZPを用い，100 nm以下のサイズの結晶に対して計測を行った。試料ホルダーは専用に開発したホルダーを用いた。エタノールで分散させた粉末試料をホルダーに塗布し乾燥させる。これにより粉末は分散しホルダーに固定される。Bragg-CDI法により３次元データ取得を行い，データ取得後に位相回復解析をその場で行い，結果を実験条件探索に反映した。
結果と考察 / Results and Discussion
BaTiO3結晶をベースとするサイズ100 nm以下のナノ結晶が山梨大学により合成された。これらナノ結晶の構造や物性はまだ未確定な部分が多い。今回，構造に関してBragg-CDI法により外形やメソスケール内部構造を調べ相転移挙動への影響を調べた。詳細は解析中である。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件