【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.05.17】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23TU0157
利用課題名 / Title
地球外物質試料のFIB加工と分析
利用した実施機関 / Support Institute
東北大学 / Tohoku Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
隕石, 小惑星リュウグウ・ベンヌ, 岩石鉱物,集束イオンビーム/ Focused ion beam
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
松本 恵
所属名 / Affiliation
東北大学 理学部
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
兒玉裕美子
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
TU-508：集束イオンビーム加工装置
TU-507：集束イオンビーム加工装置
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
探査機はやぶさ2は世界で初めてC型小惑星リュウグウのサンプルを地球へと持ち帰った。リュウグウは太陽系誕生から間もなく太陽系外縁部の低温領域で形成した天体に起源をもち、初期太陽系における物質、天体の形成過程の解明に繋がる重要な情報を保持している。本課題では、小惑星リュウグウ試料について集束イオンビームを使った微細加工を行い、透過型電子顕微鏡および放射光X線分析に用いる微小サンプルを作製する。作製したサンプルを分析することで、初期太陽系における物質・天体の形成過程について新たな知見を得ることを目的とする。
実験 / Experimental
リュウグウ粒子を導電性の板状に固定もしくは樹脂埋め研磨・表面蒸着し、集束イオンビームを用いた微細加工を行う。具体的には~10µmサイズの超薄切片、~20µmサイズのナノCT撮影用箱型サンプルを作製する。
結果と考察 / Results and Discussion
本課題により多数の透過型電子顕微鏡分析および放射光X線分析用試料を作製した。作製したサンプルは透過型電子顕微鏡観察および放射光X線ナノCT撮影などの分析に用いた。これらの分析により、リュウグウを構成する物質の内、太陽系誕生時からほとんど変化を受けていないと考えられる始原的な物質が複数見つかっている。今後、分析を進める事でこれらの物質の起源を明らかにする。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
-
Megumi Matsumoto, Microstructural and chemical features of impact melts on Ryugu particle surfaces: Records of interplanetary dust hit on asteroid Ryugu, Science Advances, 10, (2024).
DOI: 10.1126/sciadv.adi7203
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件