【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.06.29】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23UT0307
利用課題名 / Title
金属ナノ粒子の原子分解能構造解析
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials（副 / Sub）マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies
キーワード / Keywords
電子顕微鏡/ Electronic microscope,ナノカーボン/ Nano carbon
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
要木 直人
所属名 / Affiliation
東京大学 理学部化学科
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
木村 鮎美
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術補助/Technical Assistance（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
当研究室にて調製したナノカーボン素材に含まれる微量の金属ナノ粒子について，その組成についての詳細な情報を得るためにSTEM-EDS測定を行なった．
実験 / Experimental
UT-004 環境対応型超高分解能電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE（STEM Double SDD)を用いてSTEM-EDS測定を行なった．事前に当研究室のTEMで金属ナノ粒子がサンプルに存在することを確認し，その観察に用いたグリッドをそのまま持ち込んでSTEM-EDS測定を行なった．
結果と考察 / Results and Discussion
UT-004 環境対応型超高分解能電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE（STEM Double SDD)によるSTEM-EDS測定により，バルクの測定では検出できなかった金属ナノ粒子の主成分以外の情報について得ることに成功した．これによりこの金属ナノ粒子が具体的にどの過程で混入したかを確定することができた．
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
本測定の遂行にあたり，技術補助を担当して頂いた東京大学マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）の木村鮎美氏に心から感謝いたします．測定対象がサンプル内にごく僅かに存在するものであったためそれらをグリッド全体から探し出すのは非常に困難な作業でしたが，木村鮎美氏の手助けにより測定を完了することができました．本当にありがとうございました．
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件