【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.05.27】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23UT0225
利用課題名 / Title
セルロースナノファイバー（CNF）等のバイオポリマーの構造解析
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
X線回折/ X-ray diffraction,ナノワイヤー・ナノファイバー/ Nanowire/nanofiber
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
大長 一帆
所属名 / Affiliation
東京大学 大学院工学系研究科
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
木質由来の新素材であるセルロースナノファイバー（CNF）のX線構造解析を実施した。結晶ひずみ補正のため、高次の回折を解析する必要があったため、高輝度なXRD装置での解析を試みた。
実験 / Experimental
CNF前駆体のパルプ繊維とCNF分散体を凍結乾燥させたものをプレス機を用いてディスク状に成型し、高輝度XRD測定に供した。
結果と考察 / Results and Discussion
CNFサンプルでは、X線回折がブロードであり、高次の回折を同定することが困難であった。一方、CNF前駆体サンプルは、CNFサンプルよりも結晶子サイズが大きく、X線回折が明瞭であり、高次の回折を検出することができた。今後は、CNFサンプルの結晶ひずみ補正をどのように実施するか、再検討したい。放射光施設での実験も必要になると考えている。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件