利用報告書 / User's Report

【公開日:2024.07.25】【最終更新日:2024.06.01】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

23UT0145

利用課題名 / Title

高い配向性をもつ高分子を用いた熱マネージメント材料の開発

利用した実施機関 / Support Institute

東京大学

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

表面・界面,表面・界面・粒界制御/ Surface/interface/grain boundary control,X線回折/ X-ray diffraction


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

今泉 孝規

所属名 / Affiliation

東京工業大学 物質理工学院応用化学系

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

櫻井 尚也

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub),技術補助/Technical Assistance


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

UT-202:高輝度In-plane型X線回折装置


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

ポリマーブラシの熱伝導性を検討するにあたり、高輝度In-plane型X線回折装置で、基板上に作製したポリマーブラシの膜厚を測定した。

実験 / Experimental

金基板上に作製したポリマーブラシの膜厚をXRR測定により評価した。

結果と考察 / Results and Discussion

XRRプロファイルの低角度側には長周期の振動が現れ、これを解析することで数十nmのポリマーブラシの膜厚を評価することができた。またポリマーブラシの成膜に使用している基板のAu膜の配向を調べたところ、Au(111)面は主として基板表面に現れている。一方で、基板面内方向にも混在していることが明らかになった。マイカ基板上に抵抗加熱蒸着で成膜したAu膜とは異なり、Au膜をMo膜上にスパッタによって成膜したことが影響していると考えられる。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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