【公開日:2024.07.25】【最終更新日:2024.05.21】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23UT0143
利用課題名 / Title
多孔性結晶の粒子形状の加工と諸性状の評価
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用(ARIM事業参画者以外)/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-
【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion(副 / Sub)次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials
キーワード / Keywords
化学蓄熱材,イオンミリング/ Ion milling
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)
鎮目 邦彦
所属名 / Affiliation
東京大学 大学院工学系研究科
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
福川 昌宏
利用形態 / Support Type
(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
化学蓄熱への応用が期待できる多孔性結晶材料について、ナノスケール熱計測を実施するために必要な前処理加工をARIMの装置(クロスセクションポリッシャー(CP), UT-153)によって実施する。ナノスケール熱計測手法であるサーモリフレクタンス法は、サンプル表面に付与した金属トランスデューサー膜(主に 100 nm Al膜)の反射率の温度依存性(サーモリフレクタンス)を利用してサンプルの熱物性を計測する手法である。反射率変化を正確に検出するために、トランスデューサー膜の下地であるサンプル表面は平滑である必要があり、そのために前処理としてCPによる表面加工を行った。
実験 / Experimental
化学蓄熱材として有望なベータ硫酸ランタン(β-La2(SO4)3)の数 mmサイズの配向性多結晶粒を作製した。CPによって表面を平滑に加工した上で、真空蒸着によってAl膜を蒸着した。これに対して、サーモリフレクタンス法によって熱計測を実施した。
結果と考察 / Results and Discussion
β-La2(SO4)3サンプルに対してCP加工を施した(図1)。その後、Al膜を蒸着した上で、サーモリフレクタンス法による熱計測を試みた。しかし、400 nmのレーザー(Φ~10 μm, 20 mW)をサンプルに照射したところ、表面の破壊が進行してしまい適切なサーモリフレクタンスの信号を取得することができなかった。この原因として、β-La2(SO4)3の配向性多結晶粒が機械的に脆いために、CP加工によって十分な平滑度を得られなかったことが挙げられる。粗い表面ではその比表面積の大きさからレーザー光の吸収効率が高くてサンプル側の温度上昇が大きく、またβ-La2(SO4)3の耐熱性が低かったために破壊が進行した可能性がある。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
図1 CP加工を施した後のベータ硫酸ランタンサンプル表面の光学顕微鏡像
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件