【公開日：2024.07.25】【最終更新日：2024.05.17】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23NM0088
利用課題名 / Title
触媒・高分子材料の電子顕微鏡解析技術の検討
利用した実施機関 / Support Institute
物質・材料研究機構 / NIMS
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
電子顕微鏡/ Electronic microscope
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
本多 祥晃
所属名 / Affiliation
住友化学株式会社
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
長井 拓郎,大石 誠
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）,技術補助/Technical Assistance
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
化学反応プロセスの工業化には、反応に用いられる触媒の活性を高めることが求められる。固体触媒の活性は活性種となる金属元素と、補助的に添加される元素の空間分布により変わり、ナノメートルオーダーでの構造制御が必要である。実際に作製された触媒の構造を解析するために、高空間分解能STEM-EDX分析装置 Talos F200X G2を利用した。また、本装置には近年文献などで報告されている新しい機能が付与されており、これらの機能が当社の材料開発に有用な情報を与え得るものか検討を行った。
実験 / Experimental
粉体状の触媒試料をエタノール中に超音波分散させ、パーフェクトループを用いてTEM観察用支持膜付きグリッドに添着した。本試料をTalos F200X G2に導入し、加速電圧200kVでSTEM-EDX分析を行った。また、相分離構造を有する高分子薄膜をTEM観察用グリッド上に採取し、Talosによる位相コントラスト観察を試みた。
結果と考察 / Results and Discussion
触媒試料について、複数元素のナノメートルオーダーの空間分布を明確に解析することができた。調整条件や触媒活性が異なる触媒について構造の違いを明確にすることにより、活性向上のためにどのような構造の触媒を作ればよいのか指針を得ることができた。また、位相コントラスト観察法が、当社開発材料においても有効な情報を与える可能性があることを確認できた。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
サンプル１
サンプル２
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件