利用報告書 / User's Reports


【公開日:2024.07.25】【最終更新日:2024.04.11】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

23AT0334

利用課題名 / Title

ダイヤモンド半導体デバイスの研究開発_2

利用した実施機関 / Support Institute

産業技術総合研究所 / AIST

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

内部利用(ARIM事業参画者以外)/Internal Use (by non ARIM members)

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion

キーワード / Keywords

エレクトロデバイス/ Electronic device,ワイドギャップ半導体/ Wide gap semiconductor,パワーエレクトロニクス/ Power electronics,蒸着・成膜/ Vapor deposition/film formation,光リソグラフィ/ Photolithgraphy


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

牧野 俊晴

所属名 / Affiliation

産業技術総合研究所

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

佐久間裕美,長井雅嗣,小林歩夢

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

杉山和義,郭哲維,山崎 将嗣

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

AT-006:マスクレス露光装置
AT-023:電子ビーム真空蒸着装置


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

ダイヤモンドはSi やSiC、GaN等の他のワイドギャップ材料に比べて高い絶縁破壊電界、高い熱伝導率、高い移動度、等の優れた材料物性を有しており、次世代パワーデバイスへの応用が期待されている。我々は、半導体デバイスとして代表的なMOSFETをダイヤモンドで作製し、優れた材料物性に裏打ちされた、高速・低損失の大電力スイッチングデバイスを実証することを目指している。本研究では、ダイヤモンドの2mm角基板の上に様々なゲート長・ゲート幅を持った横型MOSFETの形成を行った。

実験 / Experimental

図1に作製したダイヤモンド横型MOSFETの模式図を示す。まず、(111)面方位を持ったIbダイヤモンド基板上にマイクロ波CVD法を用いてn型ボディ層を形成する。次に、マスクレス露光装置(AT-006)を用いてレジストパターンを作製し、電子ビーム真空蒸着装置(AT-023)でTiを蒸着しリフトオフすることでメタルマスクを形成する。このメタルマスクを用いてCVD装置でp+層を選択成長し、酸処理でマスクを除去することでソース・ドレイン領域のp+層を形成する。これらの表面をOH終端処理を行った後、原子層堆積装置でAl2O3をデポする。マスクレス露光装置(AT-006)によりレジストマスクを形成し、ウェットエッチングによりソース・ドレイン領域のAl2O3を除去する。最後にマスクレス露光装置(AT-006)を用いてレジストパターンを作製し、電子ビーム真空蒸着装置(AT-023)でTi/Pt/Auを蒸着しリフトオフすることで、ゲート・ソース・ドレイン領域に電極を形成する。

結果と考察 / Results and Discussion

図2に作製したダイヤモンド横型MOSFETの光学顕微鏡写真を示す。拡大図で金色に見えているのがソース(S)、ゲート(G)、ドレイン(D)の電極である。横型で同一平面上にすべての電極が配置されているため、ドレイン電極の周囲をゲート電極で囲むことで、ドレイン電極をアイソレートした構造になっている。ダイヤモンドの2mm角基板上に様々なゲート長・ゲート幅の横型MOSFETが形成できていることがわかる。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


図1 ダイヤモンド横型MOSFETの模式図



図2 ダイヤモンド横型MOSFETの光学顕微鏡像


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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