【公開日：2023.08.01】【最終更新日：2023.05.08】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22KT0047
利用課題名 / Title
STEM-EELSによる化学分析
利用した実施機関 / Support Institute
京都大学
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）マルチマテリアル化技術・次世代高分子マテリアル/Multi-material technologies / Next-generation high-molecular materials（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
電子顕微鏡/Electron microscopy,電子分光
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
根本 善弘
所属名 / Affiliation
国立研究開発法人物質・材料研究機構/電子顕微鏡解析ステーション
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
KT-403：モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
走査型透過電子顕微鏡（STEM）と電子エネルギー損失分光（EELS）に関する初等的な講義と実習を通じて化学状態分析の技術を取得する。また、第一原理バンド構造計算（Wien2K）を用いた吸収端微細構造の解析も行う。
実験 / Experimental
1日目：STEM-EELS法についての講義・施設見学
2日目：電子エネルギー損失スペクトルについての講義と実習
3日目：吸収端微細構造についての講義と第一原理バンド構造計算による実習
結果と考察 / Results and Discussion
TEMとEELSの歴史と基礎を学んだ。
EELSスペクトル解析のためのバンド計算（APW‐lo法; WIEN2k）について学んだ。
モノクロメーター付きTEMを用いた実習を通じて実際の操作法について学んだ。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
(無題)
BのEELSスペクトル（モノクロメーターOFF）
BのEELSスペクトル（モノクロメーターON）
WIEN2kを用いてスーパーセルの1つのB のK殻にコアホールを置いたときの計算結果
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件