利用報告書 / User's Reports


【公開日:2023.07.31】【最終更新日:2023.05.19】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22UT1172

利用課題名 / Title

アモルファスSiメタ表面の試作

利用した実施機関 / Support Institute

東京大学 / Tokyo Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

リソグラフィ/Lithography,膜加工・エッチング/Film processing and Etching,EB,メタマテリアルメタマテリアル/ Metamaterial


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

森 大祐

所属名 / Affiliation

株式会社ニコン

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

水島彩子

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

UT-503:超高速大面積電子線描画装置
UT-855:高精細電子顕微鏡
UT-600:汎用ICPエッチング装置
UT-603:汎用高品位ICPエッチング装置
UT-703:8インチ汎用スパッタ装置


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

サブマイクロ構造をもつ光学素子の実証評価のために、構造の作製プロセスを開発した。構造体の材料となるアモルファスSiは東北大学西澤潤一記念研究センター(微細加工プラットフォーム)の住友精密製PECVD装置にて成膜し、東京大学の微細加工プラットフォームの設備を利用し、構造体のパターニングを行った。一部自社の設備、プロセスも適用した。

実験 / Experimental

東北大学のPECVD装置でアモルファスSiを800nm成膜した石英基板上に、エッチングマスクとしてAlを50nmスパッタ成膜し、超高速大面積電子線描画装置によりレジストマスクを描画した。使用したレジストは、日本ゼオン製ZEP520A-7、スピンコート回転数は6000rpmで膜厚は200nmとなる。汎用高品位ICPエッチング装置によるCl2-BCl3 エッチングによりレジストパターンをAlに転写した。最後にアモルファスSiを汎用ICPエッチング装置でドライエッチング加工した。

結果と考察 / Results and Discussion

パターンピッチが280nmであるレジストマスクを描画し、上記のプロセスによってAlをエッチングしたあとのSEM像をFig.1に、アモルファスSiをドライエッチングしたあとのSEM像をFig.2に示す。高さ800nm、幅が100-220nmの直方体ピラーが形成された。作製したナノピラーにより波長850nmの赤外光の透過位相を2π変調可能なメタ原子としての動作が可能となり、シングレットレンズで画角170°が得られる設計を実証した。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


Fig.1 SEM image of fabricated Al pattern.



Fig.2 SEM image of fabricated amorphous Si pillar.


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)

・参考文献 H.Toba et al., Applied Optics Vol. 61, Issue 2, pp. 597-606 (2022).
・他の機関の利用:東北大学(F-21-TU-0061)
・本試作において、東京大学・微細加工プラットフォームの藤原様、水島様に技術支援を頂いたので感謝する。


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
  1. 鳥羽 英光, 森 大祐, 小西 浩, 吉川 政樹, 髙木 英嗣, 大橋 道雄, 大滝 桂, 瀧川 雄一 “3種類の誘電体メタレンズ素子のシミュレーションによる比較と超広角メタレンズ試作”日本光学会第47回 光学シンポジウム, 令和4年6月23日.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

印刷する
PAGE TOP
スマートフォン用ページで見る