利用報告書 / User's Reports


【公開日:2023.07.31】【最終更新日:2023.05.19】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22UT1157

利用課題名 / Title

DRIEを利用した立体構造の作製

利用した実施機関 / Support Institute

東京大学 / Tokyo Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

トライボロジー,膜加工・エッチング/Film processing and Etching,MEMSデバイス/ MEMS device


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

安藤 泰久

所属名 / Affiliation

東京農工大学

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

谷口治暉,小山莉生,佐藤拓心

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

UT-604:高速シリコン深掘りエッチング装置
UT-900:ステルスダイサー


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

DRIE(Deep Reactive Ion Etching)装置を利用し、マイクロ構造体の作製を行った。用いた装置は、SPTS MUC-21 ASE-Pegasus 4である。作製した構造は、大別して2種類ある。何れも主にトライボロジーを目的としている。用いたウェハは、20 mmのデバイス層を有するSOIウェハである。作製した構造体を用いて、トライボロジーに関する計測実験を行った。

実験 / Experimental

【利用した主な装置】
高速シリコン深堀エッチング装置(SPTS MUC-21 ASE-Pegasus 4), ステルスダイサー(ディスコDFL7340(Si用))
【実験方法】
加工に当たって、東大武田先端知ビル以外では2箇所(東京農工大学、都立産業技術研究センター)の設備を利用した。加工した構造体は、A、Bの2種類である。
(1) レジスト成膜
 スピンコータにより、フォトレジストを塗布し、オーブンに入れてプリベークを行う。
(2) 露光・現像
 マスクレス露光装置を用いてマスクパターンの転写を行い、現像を行う。
(3) DRIE加工【東大武田先端知ビル】
 武田先端知ビルのSPTS MUC-21 ASE-Pegasus 4を利用しDRIE加工を行う。一つの構造体における加工時間は、10分以下である。
(4) ダイシング
 ウェハを切り分け、BOX(Buried Oxide)層のエッチングなどを行う。構造体Aについてはその後、犠牲パッドを除去することで完成した。
(5) 酸化膜形成とFIB加工
 構造体Bについては、(3)の工程の後に、電気炉に入れて熱酸化膜を形成する。形成した熱酸化膜の一部をFIB加工により除去する。
(6) DRIE加工【東大武田先端知ビル】
 酸化膜をマスクとして再びDRIE加工を行う。このとき、ダイシングしたウェハをチャック状に傾けて設置することで、基板に対して傾いた構造が得られる。

結果と考察 / Results and Discussion

(6)の加工の結果、構造体Bでは傾斜構造が形成された。傾斜面には、DRIE加工の特徴であるスキャロップ構造を確認した。傾斜面の角度は、基板表面を基準として約60度であった。また、構造体Aについては、フッ酸による犠牲パッドの除去後、必要なサイズのパッドを得ることが出来た。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


DRIE加工により作製した構造体Bの全体と傾斜構造


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
  1. 佐藤、安藤、ラプラス圧力条件下のマイクロ/ナノパターンの潤滑特、第13マイクロナノ工学シンポジウム(徳島)
  2. 谷口、安藤、MEMSデバイスの性能評価及びAFMによる摩擦試験、第13マイクロナノ工学シンポジウム(徳島)
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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