利用報告書 / User's Reports


【公開日:2023.07.31】【最終更新日:2023.05.09】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22UT1074

利用課題名 / Title

光メタサーフェスの試作

利用した実施機関 / Support Institute

東京大学 / Tokyo Univ.

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

メタサーフェス,リソグラフィ/Lithography,EB,メタマテリアルメタマテリアル/ Metamaterial


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

信川 輝吉

所属名 / Affiliation

NHK放送技術研究所

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

東田 諒

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

藤原 誠

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub),技術補助/Technical Assistance


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

UT-503:超高速大面積電子線描画装置
UT-855:高精細電子顕微鏡


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

超高速大面積電子線描画装置(F7000S-VD02)のCharacter Projectionモードを利用して光メタサーフェスを作製するために、ドーズ量と描画パターン寸法の関係性をSEMにより評価した。

実験 / Experimental

石英基板上にOAP、電子線レジストZEP520A-7、エスペイサーを順にスピンコートした。F7000S-VD02により、ドーズ量を90、95、100 μC/cm2の3通りに設定して、幾何位相レンズ、回折格子のメタサーフェスを実現するための長方形の周期配列を描画し、現像した。現像結果をSEMで観察し、ドーズ量と描画パターン寸法の関係性を評価した。

結果と考察 / Results and Discussion

Fig. 1にSEMで観察した結果の一例を示す。目的の幾何位相レンズ、回折格子のメタサーフェスを実現する長方形の周期配列のパターンを描画できていることを確認した。また、ドーズ量90、95、100 μC/cm2の場合の描画パターンの面積比は、1 : 1.08 : 1.17であり、ドーズ量の増加に応じて、描画パターンが拡大する傾向を確認した。今後、ドーズ量と描画パターン寸法の関係性を加味して目的寸法の構造を有するメタサーフェスを作製する。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


Fig. 1 SEM image of a developed sample.


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)

本課題に取り組むにあたり、F7000S-VD02の操作方法をご指導くださった藤原誠様に感謝いたします。


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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