利用報告書 / User's Reports


【公開日:2023.07.28】【最終更新日:2023.05.31】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22AT0067

利用課題名 / Title

6インチSi基板上GaN HEMTの試作

利用した実施機関 / Support Institute

産業技術総合研究所 / AIST

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

AlGaN/GaN HEMT,パワーエレクトロニクスデバイス


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

木内 祐治

所属名 / Affiliation

日清紡マイクロデバイス株式会社

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

新木 奈々,出口 忠義

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type

(主 / Main)技術代行/Technology Substitution(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

AT-011:i線露光装置
AT-018:反応性イオンエッチング装置 (RIE)
AT-030:プラズマCVD薄膜堆積装置
AT-092:高圧ジェットリフトオフ装置
AT-109:6インチ電子ビーム真空蒸着装置(アールデック)


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

 p-GaNゲート構造のAlGaN / GaN HEMTは次世代パワーエレクトロニクスデバイスとして有望である。このGaN HEMTにおいて、昨年度は小片でノーマリーオフ動作を確認できたため、本年度は6インチ基板にて試作を行った。しきい値電圧値は約1.7 V(ノーマリーオフ)であることを確認できた。

実験 / Experimental

<利用した主な装置>
【NPF011】i線露光装置
【NPF018】反応性イオンエッチング装置 (RIE)
【NPF030】プラズマCVD薄膜堆積装置
【NPF092】高圧ジェットリフトオフ装置
【NPF109】6インチ電子ビーム真空蒸着装置

<実験方法>
 6インチGaN on Siウェハを用いて、一部社内の装置を用い、下記に示すプロセスフローにてFig. 1に示す構造を作製し、しきい値電圧値を評価した。
●p-GaNエッチング用ハードマスク形成
●p-GaNエッチング
●アイソレーション形成
●層間絶縁膜形成
●ゲートコンタクトホール形成
●活性化アニール
●オーミックコンタクトホール形成
●オーミック電極形成(Ti/Al蒸着、リフトオフ)
●RTA (550 ℃) 
●ゲート電極形成(Ti/Al蒸着、リフトオフ)
●I-V測定

結果と考察 / Results and Discussion

 完成したGaN HEMTについて、伝達特性(ID-VGS特性)を測定した結果、Fig. 2の波形を観測した。しきい値電圧値は約1.7 Vであり、ノーマリーオフの特性を示している。今回の実験において6インチ基板でも、しきい値電圧値は約1.7 Vである事が確認できた。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


Fig. 1 Schematic cross section of GaN HEMT



Fig.2 Id-Vg characteristics of GaN HEMT. (Vd=1 V)


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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