【公開日：2023.07.31】【最終更新日：2023.05.16】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22UT0275
利用課題名 / Title
準安定相AgTeのX線回折
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）革新的なエネルギー変換を可能とするマテリアル/Materials enabling innovative energy conversion（副 / Sub）量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions
キーワード / Keywords
熱電特性,フレキシブル熱電素子,X線回折/X-ray diffraction,熱電材料/ Thermoelectric material
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
中岡 俊裕
所属名 / Affiliation
上智大学
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
豊田 大輝
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
府川 和弘,飯盛 桂子
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）,技術補助/Technical Assistance
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
AgTe化合物は柔軟性と高い熱電特性を兼備する結晶が多く、フレキシブル熱電素子の材料として期待できる。本研究グループでは、これまで薄膜では人工的に作成できていなかった準安定相直方晶AgTeを電子線回折においては確認している。本研究では、準安定相直方晶AgTeを様々な作成手法にて作成し、X線回折（XRD）測定で検出できる結晶性、結晶サイズを得ることを目的とする。
実験 / Experimental
Smartlab(9kW)を用いた薄膜法により、様々な作成手法で作成したAgTeを含有する素子をXRD測定した。
結果と考察 / Results and Discussion
代表的な結果を記す。Ag微粒子にTeを成膜した素子(Ag NP+Teと表記）およびAg:Te＝１：１のターゲットを用いた素子(AgTeと表記）においては、電子線回折では準安定相直方晶AgTeを確認できるものの、XRDにおいては六方晶Teのみであった。Ag NP+Te素子および、AgTe素子に適切な熱アニールを施すことで、XRD測定においても六方晶Ag5Te3と準安定相直方晶AgTeを観測できた。以上の結果から、XRD測定で検出できる結晶性、結晶サイズを得る条件を見いだせたと考えている。今後熱電特性評価を進めていく予定である。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件