【公開日：2023.07.31】【最終更新日：2023.05.16】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22UT0262
利用課題名 / Title
セラミックス粒子の解析
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）その他/Others（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
走査型電子顕微鏡,非金属系構造材料,電子顕微鏡/Electron microscopy
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
吉野 晴彦
所属名 / Affiliation
AGC株式会社
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
福川 昌宏
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
セラミックス粒子の結晶性を確認するため、SEM-EBSD分析を行った。
実験 / Experimental
イオンポリッシングで断面加工した約100μmφのセラミックス粒子を、SEM（JSM-7000F）を用いてEBSD分析した。
結果と考察 / Results and Discussion
Fig.1にセラミックス粒子集合体の断面SEM像を、Fig.2にEBSD測定で得られた逆極点図方位マップを示す。粒子内の結晶配向は均一である。従ってセラミックス粒子は単結晶と推察される。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
Fig. 1 Cross Section SEM image of Ceramic particles
Fig. 2 IPF image of Ceramic particles
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件