【公開日：2023.07.31】【最終更新日：2023.05.17】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22UT0261
利用課題名 / Title
セメントおよび火山ガラス微粉末の表面分析
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）その他/Others（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
セメント,電子顕微鏡/Electron microscopy,イオンミリング/Ion milling
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
友寄 篤
所属名 / Affiliation
東京大学
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
Ren Yuqi
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
UT-102：高分解能走査型分析電子顕微鏡
UT-153：クロスセクションポリッシャー(CP)
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
セメントおよび火山ガラス微粉末(VGP)について、SEMによる断面観察とEDS分析、表面観察を行った。
実験 / Experimental
未反応VGPおよびセメントを対象にCP研磨を行ったサンプル、VGPセメントペーストを水和停止して粉砕したのちにCP研磨したサンプルを対象に、SEM断面観察、EDSマッピング・点分析を行った。未反応VGPを対象に、表面SEM観察を行った。
結果と考察 / Results and Discussion
セメントの断面観察では、エーライト、ビーライト、アルミネート相、フェライト相、をEDSマッピング・点分析から特定することができた。またVGPの断面観察では粒子表面にAlが濃縮していることが、マッピングおよび線分析から確認された。VGPの表面観察では、堆積地によって状態が異なることが確認された。セメントVGPペーストについて、材齢の進行に伴いセメントの反応が進行していることが確認された。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
図1 セメントのマッピング
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件