【公開日：2023.07.31】【最終更新日：2023.05.16】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22UT0238
利用課題名 / Title
積層造形金属の組織観察
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）その他/Others（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
金属組織,アルミ合金,光学顕微鏡/Optical microscopy,電子顕微鏡/Electron microscopy
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
景山 宏治
所属名 / Affiliation
株式会社SUN METALON
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
Narongdet Slatchaneenopdon,田中峻,池間美鈴
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
UT-104：低真空走査型電子顕微鏡
UT-103：高分解能走査型電子顕微鏡
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
株式会社SUN METALONにて開発中である積層造形プロセスによる造形物の金属組織について評価するため、まずは、参考試料として、通常の鋳造や従来の３Ｄプリンティング手法で造形された金属組織について評価を行った。
今回主な対象金属としては、工具鋼ＳＫＤ６１、およびアルミ合金のＡ６０６１を用いた。
実験 / Experimental
観察対象であるＡ６０６１金属試験片（鋳造による製造、T6熱処理済標準試験片）をエポキシ樹脂に埋め込み、１８時間養生させて研磨用試験片を作製した。当該試験片に対し機械研磨を行い、コロイダルシリカ等で鏡面に仕上げ走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）の観察試料とした。
得られた観察試験片に対し、ＳＥＭ観察、ＥＤＳ分析、並びにＥＢＳＤ解析による結晶粒径分布、結晶方位分布を評価した。
結果と考察 / Results and Discussion
図１はＳＥＭ（ＪＳＭ－６５１０ＬＡ）により観察した反射電子像である。２０～３０μｍ程度に均等にサイズのそろった結晶粒子が観察され、粒界には輝度の高い析出物、粒内および粒界に輝度の低い析出物が観察された。これらはＥＤＳ分析の結果、それぞれＡｌ－Ｆｅ－Ｃｒ系金属化合物、Ａｌ－Ｍｇ－Ｓｉ系金属化合物であることが確認された。Ａｌ－Ｆｅ－Ｃｒ系金属析出物は自形を有しており、比較的高温下から析出し始めたものだと推定される。
図２は同試料に対しＥＢＳＤ解析を行った結果である。ＳＥＭ観察にて推定した通り、２０～３０μｍの粒子が全体の５０％以上を占めていることが確認された。結晶方位に関しては、００１、１０１、１１１いずれも均等に分散しているように見受けられ、異方性は観察されなかった。本観察結果により判明した、一般鋳造品（Ｔ６熱処理品）のもつ組織の特徴に対し、当社で開発中の造形プロセスにより製造した金属積層造形物の組織との差異、また一般鋳造品の金属組織へ近づけていく手法について、評価・検討中である。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
図１ A6061合金（T6熱処理品）反射電子像観察結果（500倍）
図２ A6061合金（T6熱処理品）EBSD解析結果
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件