利用報告書 / User's Report

【公開日:2023.07.31】【最終更新日:2023.05.13】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22UT0211

利用課題名 / Title

ワイドバンドギャップ半導体の表面分析

利用した実施機関 / Support Institute

東京大学

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

内部利用(ARIM事業参画者以外)/Internal Use (by non ARIM members)

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions

キーワード / Keywords

走査プローブ顕微鏡/Scanning probe microscopy,量子効果デバイス/ Quantum effect device,スピントロニクス/ Spintronics


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

佐々木 健人

所属名 / Affiliation

東京大学

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

小林研介,小河健介,塚本萌太,西村俊亮,伊藤秀爾,山本航輝,顧豪

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

UT-307:走査型プローブ顕微鏡


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

ダイヤモンド中の窒素空孔(NV: Nitrogen-Vacancy)中心の電子スピンは、高空間分解能かつ高感度な磁場計測に応用されている。磁気イメージングの空間分解能を高めるためには、ダイヤモンド表面と試料の距離を近づけることが課題である。我々は、ダイヤモンド表面の平坦化や洗浄技術を確立し、この課題を解決する。武田先端知ビルの装置を利用して、単結晶ダイヤモンドの洗浄処理とその表面観察を行った。

実験 / Experimental

シンテック社に単結晶ダイヤモンド基板の精密研磨を依頼し、原子間力顕微鏡(AFM)による表面構造の変化を確認した。以下の手順に従い、AFM直前に基板の化学洗浄を実施した。基板を入れたピラニア溶液 (H2O 15 ml, H2O2 15 ml, H2SO4 45 mlの混合液)をホットプレート上に置き、350℃まで加熱して10分間ホールドした後、室温に戻して超純水でリンスした。その後、基板をエタノール中で30分間超音波洗浄した。特に、研磨後の基板については、表面のエタノールをクリーンペーパーで拭き取り除去した。これらの実験はマテリアル先端リサーチインフラにて実施した。他のダイヤモンド試料においても、付着した金属を王水等で洗浄するなどの処理を、同設備を利用して実施した。

結果と考察 / Results and Discussion

単結晶ダイヤモンドの精密研磨前後のAFM像では表面ラフネスの低下が確認された。研磨後はRa値 0.055 nmであった。
洗浄処理によって粒子状やアメーバ状の汚れの除去ができた。特に、クリーンペーパーによる物理的な拭き取り処理がアメーバ状の汚れの除去に著しい効果があることが分かった。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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