【公開日：2023.07.31】【最終更新日：2023.05.30】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22UT0168
利用課題名 / Title
Carbonized electrospun nanofibers for surface-enhanced Raman spectroscopy
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）次世代ナノスケールマテリアル/Next-generation nanoscale materials（副 / Sub）量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions
キーワード / Keywords
放射光/Synchrotron radiation,電子分光,量子効果/ Quantum effect,ナノカーボン/ Nano carbon
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
丸見 真智子
所属名 / Affiliation
東京大学
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
北濱康孝
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
本研究は炭素ベースSERS基板の作成を目的としている。作成した炭素基盤の表面の物質の化学結合状態を調べるため、東京大学の設備を利用してXPS・EDS分析を行った。
実験 / Experimental
【利用した主な装置】XPS（PHI 5000 VersaProbe）・SEM（日本電子JSM-6610LV EDS付）・ステルスダイサー・オージェ【実験方法】(1)ステルスダイサーで切断したSiウエハを基盤として研究室で作成したサンプルを、ホルダーの上にカーボンテープで貼り付け、XPSを用いて化学状態を観測した。14個のサンプルをそれぞれ２スポットずつ、ワイドスペクトル及びC、N、O、Siのナロウスペクトルを取得した。データ取得後の解析は研究室に持ち帰り自らのソフトで行った。SEM、オージェについてもXPSと同様。
結果と考察 / Results and Discussion
ポリアクリロニトリル（PAN)の炭化温度を上げれば上げるほど、炭素の割合が増えていくことが分かった。また、この際、XPSにおいてNinPridoneが増えているので、PANの側鎖から優先的に窒素が反応し、素材から抜けていくということが推測できる。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
EDS結果
SEM画像
XPS結果
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
- 丸見真智子, 北濱 康孝, Ting Hui Xiao, 合田圭介, “炭化電界紡糸ナノファイバーによる表面増強ラマン分光法” 応用物理学会 春季 令和5年3月16日 ポスター発表
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件