【公開日：2023.07.31】【最終更新日：2023.05.16】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22UT0078
利用課題名 / Title
ゼオライトの断面観察
利用した実施機関 / Support Institute
東京大学 / Tokyo Univ.
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
イオンミリング/Ion milling,分離・精製技術/ Separation/purification technology
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
岩橋 壱征
所属名 / Affiliation
東京大学
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）機器利用/Equipment Utilization（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
FAU型ゼオライトの脱アルミニウム課程における粒子内部の組成分布を走査電子顕微鏡で反射電子像を観察した。
実験 / Experimental
既往の研究のFAU合成手法[1]を用いてFAU単結晶を合成し、濃度の異なる硫酸によって脱アルミニウムを行った。その後Ag、Csなどでイオン交換しアルミニウムサイトを修飾し、断面を観察した。
利用装置
クロスセクションポリッシャ SM-09020
走査電子顕微鏡 JSM-IT800
結果と考察 / Results and Discussion
Ag、Csでイオン交換することで周囲のSiとの原子番号の差が生まれ、反射電子像でコントラストが生じた。このイオンはアルミニウムサイトにあると考えられ、このコントラストからアルミニウムの分布を観察することができた。しかし、イオン交換率が100%にはならず完全なアルミニウム分布を観察するには至っていない。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
図1 Ag交換したFAU断面
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
参考文献
[1] J. Warzywoda, et al., J. Cryst. Growth, 204 (1999) 539–541
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件