利用報告書 / User's Report

【公開日:2023.08.01】【最終更新日:2023.05.22】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22KT1295

利用課題名 / Title

チップ接合向け新規接着剤の接着性評価

利用した実施機関 / Support Institute

京都大学

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)マルチマテリアル化技術・次世代高分子マテリアル/Multi-material technologies / Next-generation high-molecular materials(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

接着剤, 樹脂材料, 洗浄, 現像,リソグラフィ/Lithography,異種材料接着・接合技術/ Dissimilar material adhesion/bonding technology


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

稲田 智志

所属名 / Affiliation

三井化学株式会社

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes

中村 雄三,田村 佳保里

ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

今井憲次

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub),技術代行/Technology Substitution


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

KT-110:レジスト現像装置
KT-111:ウエハスピン洗浄装置


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

半導体パッケージングの製造工程では、ウェハやチップの仮止めプロセスが重要となる。例えば、ダイボンディングフィルムによって従来の接着剤では不可能であった多段化が実現し、半導体メモリの小型大容量化が進んだ。本課題では開発中の接着材料のウェハ洗浄プロセス、レジスト現像プロセスへの適用可能性について検討した。室温で開発接着剤で貼り合わせたSiチップが上記プロセスに対してどの程度の耐性があるかを評価した。その結果、いずれのプロセスを適用しても室温での貼り合わせにも関わらずチップの剥離などは見られなかった。これらの良好な仮止め性は半導体製造プロセスへの応用が期待される。

実験 / Experimental

図1に評価プロセスフローを示す。新規接着剤が塗布キュアされたSiウェハを用意し、7x7mmサイズへダイシングを行った。次にフリップチップボンダーを用いてチップを真空吸着して4インチのSiウェハ上へ室温、20N、1secで貼り合わせを行った(図2)。このウェハにレジスト現像プロセス、ウェハ洗浄プロセスを施して、チップ剥離の有無を確認した。レジスト現像プロセスはTMAH(2.38%水溶液)を用いて65秒処理した後に、純水で20秒洗浄し、最後にスピン乾燥を行った。ウェハ洗浄プロセスは、まず二流体洗浄を30秒、超音波洗浄を30秒処理し、最後にスピン乾燥を行った。

結果と考察 / Results and Discussion

図3はウェハ上のチップをCSAMで確認した結果である。今回評価した39チップ(13チップ×3枚)、すべてのチップがウェハ上に仮止めが出来きており、大きなボイド(洗浄液の侵入)などが見られないことが確認できた。本評価により、開発中の新規接着剤の室温仮止め性が非常に良好である可能性を示唆することができた。N数増しの評価を継続する予定である。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


図1 評価プロセスフロー



図2 チップ貼り合わせ位置



図3 貼り合わせたチップのCSAMイメージ


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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