利用報告書 / User's Report

【公開日:2023.07.28】【最終更新日:2023.04.27】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22TU0104

利用課題名 / Title

圧電MEMSデバイスの開発 / Development of piezoelectric MEMS devices

利用した実施機関 / Support Institute

東北大学

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

膜加工・エッチング/Film processing and Etching,MEMSデバイス/ MEMS device


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

丸山 佑紀

所属名 / Affiliation

ミツミ電機株式会社

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

TU-216:Vapor HFエッチング装置


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

弊社は中空構造を有する圧電MEMSデバイスを開発中である。今回、東北大学ナノテク融合技術支援センターのVaper HFエッチング装置を使用し、中空構造の形成を試みた。

実験 / Experimental

【利用した主な装置】 住友 Vaper HF エッチング装置
【実験方法】
中空部にSiO2犠牲層が充填された圧電MEMSデバイスウエハに対し、Vaper HFエッチングを実施した。 また、エッチング後、顕微鏡観察を行い、SiO2犠牲層の残膜有無を確認した。Fig. 1にエッチング及び観察方法の模式図を示す。
 ・エッチング方法 基本サイクル(※)を複数回繰返し、エッチングを行った。 (※) アルコール置換 -> HFガス導入 -> 排気
・観察方法 エッチング後、圧電層をテープ剥離し、中空部内部を上面より観察を行った。

結果と考察 / Results and Discussion

エッチング後の観察結果をFig. 2に示す。SiO2犠牲層の残膜も無く、中空構造の形成が出来た。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations


Fig. 1. エッチング及び観察方法の模式図



Fig. 2. エッチング後の中空部内部の観察結果


その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)

デフォルトその他特記事項


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
  1. デフォルト口頭発表
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

スマートフォン用ページで見る